Аппаратные уязвимости микроэлектроники исследуют в СПбПУ
.png "Аппаратные уязвимости микроэлектроники исследуют в СПбПУ")
В Санкт-Петербургском политехническом университете развивают исследования в области кибербезопасности, защиты информации и киберустойчивости цифровых систем. Одно из направлений связано с анализом уязвимостей электронной компонентной базы, применяемой в системах критической информационной инфраструктуры. Вопросы выявления аппаратных уязвимостей обсудили директор ИКНК СПбПУ, член-корреспондент РАН, профессор Дмитрий Зегжда и доцент Высшей школы кибербезопасности ИКНК, кандидат технических наук Тигран Овасапян. Они приняли участие в заседании «Аппаратные уязвимости в изделиях микроэлектроники: как применить опыт анализа ПО для выявления уязвимостей в ЭКБ?».
Тема заседания связана с поиском способов проверки электронных компонентов с использованием подходов, применяемых при исследовании программного обеспечения. Такой анализ позволяет оценивать аппаратную часть не изолированно, а в составе программно-аппаратного комплекса и учитывать возможные риски для его защищённости.
Для объектов критической инфраструктуры это важно при оценке доверия к компонентам и аппаратным средствам защиты информации. Полученные подходы могут использоваться при формировании требований к отечественной микроэлектронике и разработке методов проверки вычислительного оборудования.
Обсуждение прошло на треке «Доверенные ПАК и ЭКБ для критической гражданской инфраструктуры», организованного госкорпорацией «Росатом». Участники рассмотрели вопросы создания доверенных компонентов и аппаратных средств защиты информации для систем, от которых зависит работа значимых объектов.
Дмитрий Зегжда также принял участие в закрытом бизнес-завтраке «Честный разговор о переходе на доверенные решения в сфере критической информационной инфраструктуры». Представители регуляторов, органов власти, заказчиков, разработчиков микроэлектроники и поставщиков доверенных ПАК обсудили технические и нормативные условия перехода на такие решения.
ИКНК СПбПУ участвует в форуме «Микроэлектроника» несколько лет. В 2025 году Дмитрий Зегжда модерировал секцию «Уязвимости в ЭКБ как фактор риска для ПАК объектов КИИ» и представил доклад о влиянии уязвимостей на устойчивость программно-аппаратных комплексов и объектов критической информационной инфраструктуры.
Для справки: XII Российский форум «Микроэлектроника 2026» прошел с 27 сентября по 3 октября на федеральной территории «Сириус». В нем участвовали более 2,5 тысячи специалистов из 141 города России, а также представители Белоруссии, Китая, Индии, Вьетнама и Казахстана. Программа включала научную конференцию, дискуссии и выставку разработок в области микроэлектроники.
.png)
(37).png)